Resumen
Describes profiles and the general structure of contact (stylus) instruments for measuring surface roughness and waviness. Specifies the properties of the instrument which influence profile evaluation. Replaces the first edition of ISO 3274:1975 and ISO 1880:1979.
Informaciones generales
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Estado: RetiradaFecha de publicación: 1996-12Etapa: Retirada de la Norma Internacional [95.99]
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Edición: 2Número de páginas: 13
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Comité Técnico :ISO/TC 213ICS :17.040.30
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Ciclo de vida
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Anteriormente
RetiradaISO 1880:1979
RetiradaISO 3274:1975
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Ahora
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Preliminar
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10
Propuesta
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20
Preparación
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30
Comité
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40
Consulta
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50
Aprobación
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60
Publicación
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90
Revisión
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95
Retirada
Correcciones
Corrigen la edición actual; gratuitas; no incluidas en el texto de la norma existente.RetiradaISO 3274:1996/Cor 1:1998
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00
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Revisada por
PublicadoISO 25178-601:2025