ISO 6342:1993
Micrographics — Aperture cards — Method of measuring thickness of buildup area
Reference number
ISO 6342:1993
Edición 1
1993-08
© ISO 2024
Retirada
Retirada (Edición 1, 1993)

Resumen

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 1993-08
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 3
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 171/SC 2
    ICS :
    37.080 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

¿Tiene alguna duda?

Consulte nuestras Ayuda y asistencia

Atención al cliente
+41 22 749 08 88

Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. ICS
  5. 37
  6. 37.080
  7. ISO 6342:1993