Resumen
ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2005-11Etapa: Norma Internacional confirmada [90.93]
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Edición: 1Número de páginas: 9
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Comité Técnico :ISO/TC 206ICS :81.060.30
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