Reference number
ISO 18452:2005
© ISO 2025
International Standard
ISO 18452:2005
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Determination of thickness of ceramic films by contact-probe profilometer
Edition 1
2005-11
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No disponible en español
Publicado (Edición 1, 2005)
Esta publicación se revisó y confirmó por última vez en 2019. Por lo tanto, esta versión es la actual.

ISO 18452:2005

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CHF 65
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Resumen

ISO 18452:2005 specifies a method for the determination of the film thickness of a fine ceramic film and ceramic coatings by a contact-probe profilometer. The method is suitable for film thicknesses in the range of 10 nm to 10 000 nm.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2005-11
    Etapa
    : Norma Internacional en proceso de revisión sistemática [90.20]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 9
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 206
    ICS :
    81.060.30 
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