Reference number
ISO 22278:2020
© ISO 2024
International Standard
ISO 22278:2020
Fine ceramics (advanced ceramics, advanced technical ceramics) — Test method for crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using XRD method with parallel X-ray beam
Edition 1
2020-08
Preview
No disponible en español
Publicado (Edición 1, 2020)

ISO 22278:2020

Idioma
Formato
CHF 151
Convertir Franco suizo (CHF) a tu moneda

Resumen

This document specifies the test method for measuring the crystalline quality of single-crystal thin film (wafer) using the XRD method with parallel X-ray beam. This document is applicable to all of the single-crystal thin film (wafer) as bulk or epitaxial layer structure.

Informaciones generales

  • Estado
     : Publicado
    Fecha de publicación
     : 2020-08
    Etapa
    : Norma Internacional publicada [60.60]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 29
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 206
    ICS :
    81.060.30 
  • RSS actualizaciones

Ciclo de vida

Objetivos de Desarrollo Sostenible

Esta norma contribuye al siguiente Objetivo de Desarrollo Sostenible

9
Industry, Innovation and Infrastructure

¿Tiene alguna duda?

Consulte nuestras Ayuda y asistencia

Atención al cliente
+41 22 749 08 88

Horario de asistencia:
De lunes a viernes - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Tienda
  3. Standards catalogue
  4. TC
  5. ISO/TC 206
  6. ISO 22278:2020