Resumen
This document specifies methods for testing wavefront aberrations for microlenses within microlens arrays. It is applicable to microlens arrays with very small lenses formed inside or on one or more surfaces of a common substrate.
Informaciones generales
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Estado: PublicadoFecha de publicación: 2024-11Etapa: Norma Internacional publicada [60.60]
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Edición: 2Número de páginas: 26
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Comité Técnico :ISO/TC 172/SC 9ICS :31.260
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Ciclo de vida
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RetiradaISO 14880-2:2006
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