Numéro de référence
ISO 1463:1982
ISO 1463:1982
Revêtements métalliques et couches d'oxyde — Mesurage de l'épaisseur — Méthode par coupe micrographique
Edition 2
1982-07
Annulée
ISO 1463:1982
6058
Annulée (Edition 2, 1982)

Résumé

La présente Norme internationale spécifie une méthode de mesurage, par coupe micrographique en utilisant un microscope optique, de l'épaisseur locale des revêtements métalliques, couches d'oxyde et émaux vitrifiés. Dans de bonnes conditions, en utilisant un microscope optique, la méthode permet d'obtenir une précision absolue de 0,8 µm sur la mesure; cette précision déterminera l'aptitude de la méthode à mesurer l'épaisseur des revêtements minces.

Informations générales

  •  : Annulée
     : 1982-07
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  •  : 2
     : 5
  • ISO/TC 107
  • RSS mises à jour

Vous avez une question?

Consulter notre Aide et assistance