Résumé
Le présent document spécifie la conception, les caractéristiques métrologiques et les caractéristiques nominales des instruments à contact à stylet pour le mesurage surfacique de la topographie de surface. Comme les profils de surface peuvent être extraits des données de topographie de surface surfacique, les méthodes décrites dans le présent document s'appliquent également aux mesurages de profil.
Informations générales
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État actuel: PubliéeDate de publication: 2025-02Stade: Norme internationale publiée [60.60]
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Edition: 2Nombre de pages: 18
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Comité technique :ISO/TC 213ICS :17.040.20
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Cycle de vie
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Précédemment
AnnuléeISO 3274:1996
AnnuléeISO 25178-601:2010
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Actuellement