ISO/CD 16524
Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for quantitative nanoscale potential measurement by Kelvin probe force microscopy
Numéro de référence
ISO/CD 16524
Edition 1
Committee Draft
u
ISO/CD 16524
84628
Examen du projet par le comité en cours.

Résumé

This document describes the standard procedures for the quantitative use of Kelvin probe force microscopy (KPFM). It includes reproducible measurements of contact potential differences (CPD), reliable deduction of the work function of the KPFM probe-tip in use, and quantitative evaluation of the lateral resolutions of CPD imaging with KPFM. This document is applicable to the quantitative analysis of KPFM surface potential imaging of solid material surfaces at the nanoscale.

Informations générales

  •  : Projet
    : Mise en consultation du CD [30.20]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 9
  • RSS mises à jour

Vous avez une question?

Consulter notre FAQ

Service à la clientèle
+41 22 749 08 88

Horaires d’ouverture:
De lundi à vendredi - 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)