Le dernier examen de cette norme date de 2019.
Cette édition reste donc d’actualité.
Résumé
PrévisualiserLa présente Norme Internationale spécifie une méthode de mesurage de l'épaisseur des revêtements minces à haut pouvoir réfléchissant (jusqu'à 2 µm), basée sur le principe de Fizeau d'interférométrie à faisceaux multiples. La méthode décrite ne peut pas être appliquée aux revêtements en émail vitrifié.
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| Format | Langue | |
|---|---|---|
| std 1 40 | ||
| std 2 40 | Papier |
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