Фильтр :
Стандарт и/или проект(2) | Этап | ТК |
---|---|---|
Optics and photonics — Holography — Part 1: Methods of measuring diffraction efficiency and associated optical characteristics of holograms
|
90.20 | ISO/TC 172/SC 9 |
Optics and photonics — Holography — Part 2: Methods for measurement of hologram recording characteristics
|
90.20 | ISO/TC 172/SC 9 |
По запросу ничего не найдено. Пожалуйста, попробуйте изменить настройки фильтра.
- Интернет-магазин
- Интернет-магазин
- МКС
- 31
- 31.020 - Electronic components in general