Тезис
ISO 14997:2003 establishes the physical principles and practical means for the implementation of two methods, specified in ISO 10110-7, for measuring surface imperfections. These methods are: Method l, the surface area obscured or affected by the defects, and, Method ll, the visibility of the imperfections.
Both methods are suitable for prototype, small scale or large scale production of a wide variety of optical components. Imperfection appearance or functional tolerances related to a particular component can be determined by agreement between supplier and customer.
Общая информация
-
Текущий статус: ОтозваноДата публикации: 2003-04Этап: Отмена международного стандарта [95.99]
-
Версия: 1
-
Технический комитет :ISO/TC 172/SC 1ICS :37.020
- RSS обновления
Жизненный цикл
-
Сейчас
-
00
Предварительная стадия
-
10
Стадия, связанная с внесением предложения
-
20
Подготовительная стадия
-
30
Стадия, связанная с подготовкой проекта комитета
-
40
Стадия, связанная с рассмотрением проекта международного стандарта
-
50
Стадия, на которой осуществляется принятие стандарта
-
60
Стадия, на которой осуществляется публикация
-
90
Стадия пересмотра
-
95
Стадия, на которой осуществляется отмена стандарта
-
00
-
Пересмотрен
ОтозваноISO 14997:2011