недоступно на русском языке

Тезис

 Preview

This document presents a list of common practices in preparation methods of metallographic specimens for optical and scanning electron microscopy, including preliminary preparation, grinding and polishing of specimens as well as microstructure revelation methods covering the optical method, etching methods (chemical, electrolytic, constant potential, ion sputtering and high temperature relieving) and the interface layer method [1][2].


Общая информация 

  • Текущий статус
     : Опубликовано
    Дата публикации
     : 2022-07
  • Версия
     : 1
  • Технический комитет
     : ISO/TC 17/SC 7 Methods of testing (other than mechanical tests and chemical analysis)
  • ICS
     :
    77.080.20 Steels

Приобрести данный стандарт

Формат Язык
PDF + ePub
Бумажный
  • CHF92

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)

  2. Интернет-магазин
  3. Каталог стандартов
  4. ТК
  5. ISO/TC 17/SC 7
  6. ISO/TR 20580:2022