Reference number
ISO/TS 22933:2022
Technical Specification
ISO/TS 22933:2022
Surface chemical analysis — Secondary ion mass spectrometry — Method for the measurement of mass resolution in SIMS
Edition 1
2022-04
Technical Specification
Preview
ISO/TS 22933:2022
74193
недоступно на русском языке
Опубликовано (Версия 1, 2022)

ISO/TS 22933:2022

ISO/TS 22933:2022
74193
Язык
Формат
CHF 96
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

This document specifies a method for measuring the mass resolution in SIMS, and how to compare the mass resolution between different instruments (e.g. TOF-SIMS, Magnetic SIMS, Quadrupole SIMS, Fourier Transform SIMS, etc.) by considering the peak shapes.

Общая информация

  •  : Опубликовано
     : 2022-04
    : Опубликование международного стандарта [60.60]
  •  : 1
  • ISO/TC 201/SC 6
    71.040.40 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ