ISO/DIS 20263
u
ISO/DIS 20263
87682
недоступно на русском языке

Текущий статус : В стадии разработки

ru
Формат Язык
std 1 63 PDF
std 2 63 Бумажный
  • CHF63
Пересчитать швейцарские франки (CHF) в ваша валюта

Тезис

ISO 20263:2017 specifies a procedure for the determination of averaged interface position between two different layered materials recorded in the cross-sectional image of the multi-layered materials. It is not intended to determine the simulated interface of the multi-layered materials expected through the multi-slice simulation (MSS) method. This document is applicable to the cross-sectional images of the multi-layered materials recorded by using a transmission electron microscope (TEM) or a scanning transmission electron microscope (STEM) and the cross-sectional elemental mapping images by using an energy dispersive X-ray spectrometer (EDS) or an electron energy loss spectrometer (EELS). This document is also applicable to the digitized image recorded on an image sensor built into a digital camera, a digital memory set in the PC or an imaging plate and the digitalized image converted from an analogue image recorded on the photographic film by an image scanner.

Preview 

Вы можете ознакомиться с данным стандартом в нашей онлайн-библиотеке (OBP)

Общая информация

  •  : В стадии разработки
    You can help develop this draft international standard by contacting your national member
    : Начало голосования по проекту между-народно-го стандарта: 3 мес. [40.20]
  •  : 2
  • ISO/TC 202/SC 3
    37.020  71.040.50 
  • RSS обновления

Жизненный цикл

Цели в области устойчивого развития

Данный стандарт разработан для достижения следующих Цель устойчивого развития

Появились вопросы?

Ознакомьтесь с FAQ

Работа с клиентами
+41 22 749 08 88

Часы работы:
Понедельник – пятница: 09:00-12:00, 14:00-17:00 (UTC+1)