Estado : Retirada

Esta norma ha sido revisada por ISO 6342:2003

Resumen

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Informaciones generales

  • Estado
     : Retirada
    Fecha de publicación
     : 1993-08
    Etapa
    : Retirada de la Norma Internacional [95.99]
  • Edición
     : 1
    Número de páginas
     : 3
  • Comité Técnico :
    ISO/TC 171/SC 2
    ICS :
    37.080 
  • RSS actualizaciones

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