État actuel : Annulée

Cette norme a été révisée par ISO 6342:2003

Résumé

The method specified determines the buildup thickness of the aperture card as the difference between the thickness of the buildup area and the thickness of the card both measured using a micrometer.

Informations générales

  • État actuel
     : Annulée
    Date de publication
     : 1993-08
    Stade
    : Annulation de la Norme internationale [95.99]
  • Edition
     : 1
    Nombre de pages
     : 3
  • Comité technique :
    ISO/TC 171/SC 2
    ICS :
    37.080 
  • RSS mises à jour

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